薄膜沉积设备
- 金属有机化学气相沉积 (MOCVD):使用有机前驱物气体在基底上生长晶体薄膜。
- 分子束外延 (MBE):通过高能分子束在基底上逐层沉积原子。
- 化学气相沉积 (CVD):使用气态前驱物在基底上形成薄膜。
- 物理气相沉积 (PVD):通过物理方法(如溅射、蒸发)将材料转移到基底上。
- 原子层沉积 (ALD):交替脉冲气态前驱物,在基底上逐层沉积薄膜。
薄膜蚀刻设备
- 反应离子刻蚀 (RIE):使用等离子体和反应性气体蚀刻薄膜。
- 等离子体增强化学气相沉积 (PECVD):在等离子体中使用气态前驱物沉积和蚀刻薄膜。
- 溅射刻蚀:使用离子束溅射蚀刻薄膜。
- 激光刻蚀:使用激光束蚀刻薄膜。
- 湿法刻蚀:使用化学溶液蚀刻薄膜。
薄膜测量设备
- 椭偏仪:测量薄膜的光学特性(例如厚度、折射率)。
- X 射线衍射 (XRD):分析薄膜的晶体结构。
- 扫描电子显微镜 (SEM):观察薄膜的表面形态。
- 透过电子显微镜 (TEM):观察薄膜的内部结构。
- 原子力显微镜 (AFM):测量薄膜的表面粗糙度和形貌。
其他
- 涂层设备:在基底上涂覆保护层或装饰层。
- 退火炉:对薄膜进行热处理,以提高其性能或稳定性。
- 溅射靶材:用于物理气相沉积的材料源。
- 真空系统:用于薄膜沉积和蚀刻过程中的真空环境。